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 | La maîtrise des processus SPC SQC
Objectif
Former les participants aux méthodes statistiques afin de transformer leurs données en information.

Présenter et illustrer, par des applications pratiques, la maîtrise statistique du processus.

Présenter leurs avantages, leurs limitations et leur domaine d'application dans le cadre du concept de la gestion globale de la qualité.
 
Durée
32 heures
Date(s) de la formation
08/05/2018 ainsi que les 15, 22 et 29 Mai 2018
Horaire : De 08h30 à 17h00
Lieu : CQHN ASBL - 6041 Gosselies
Formateur : Bruno RENAUX RENAUX B SPRL
Prix
Membre : 1200 € HTVA / Non membre : 1400 € HTVA
Frais de documentation et de repas compris.
Reconnaissance
Nous acceptons les chèques formation de la région Wallonne (28 sont nécessaires).

Les entreprises des Commissions Paritaires 111 et 209 peuvent bénéficier d'une prime à la formation moyennant l'accord du comité de gestion de l'IFPM. Cette prime varie selon la nature et les modalités d'organisation des formations.

Les entreprises des Commissions Paritaires 118 et 220 (Alimentaire) peuvent récupérer une partie des coûts de cette formation via l'IFP (120 EUR par jour et par participant avec un maximum de 360 EUR par jour).
Public
Responsables des fonctions Assurance Qualité, Quality Control, Inspection, Bureau d'Etudes et de Méthodes, Ingénierie.
Conditions d'accès
Niveau de formation A2 ou B1. Avoir des notions de base en statistiques.

Un esprit ouvert et une facilité de calcul permettent également de suivre la formation.

Venir en formation avec un pc portable muni d'EXCEL.
Nombre de participants
12
Programme
Introduction
Rappel des étapes du processus d'amélioration de la qualité.
Rappel de la norme ISO 9001.  

Les outils d?amélioration de la qualité
Présentation de différents outils d'amélioration de la qualité comme le logigramme, le tableau de collecte, le diagramme de concentration, le Pareto, le diagramme de cause et effet.

Types de Contrôles
Contrôle à 100%.
Contrôle par échantillonnage (AQL, LTPD).
S.P.C.

Bases statistiques
Types de variables.
Représentation graphique et histogramme.
Paramètres de position (moyenne, mode et médiane).
Paramètre de dispersion (étendue, variance et écart-type).
Morphologie.
La loi Normale et droite de Henry.
Valeurs individuelles et moyennes.
Estimation et intervalle.
Autres distributions (Student, Binomiale et Poisson).

Les cartes de contrôle 

Cartes par attribut
Proportion d'unités non conformes : p
Nombre d'unités non conformes : np
Nombre de non conformités : c
Nombre de non conformités par unité : u

Cartes par variable
Moyenne/Etendue : Xbar/R
Moyenne/écart-type : Xbar/s
Valeurs individuelles/Etendue mobile : IX/MR
Moyenne mobile/Etendue mobile : MA/MR
Médiane/Etendue : Xtilde/R

Autres cartes
CUSUM
EWMA
Petites productions (Nominal X, Target X et standardisé).
Production par lot.
Procédé dérivant.
Démérite.

Variation du procédé
Différence entre variation aléatoire et variation accidentelle.
Procédé sous contrôle.
Modélisation du procédé.
Pilotage du procédé.
Règles de Ford.
Le sur-réglage.

Aptitude
Aptitude machine (Cm, Cmk).
Aptitude du procédé (Cp, Cpk).
Tolérance et performance.

Mesure
Système de mesure.
Composante de l'erreur de mesure.
Répétabilité et reproductibilité.
Erreur de mesure et tolérance.

Mise en ?uvre du S.P.C.
Sélection d'un projet.
Etapes de mise en oeuvre.
Comment résoudre les problèmes?
Comment prévenir les problèmes?
Applications potentielles du S.P.C.